Undersøgelsen og anvendelsen af elektroniske materialer har skabt en stigende efterspørgsel efter sofistikerede og pålidelige teknikker til undersøgelse og karakterisering af disse materialer. Denne omfattende bog ser på området røntgendiffraktion og de moderne teknikker, der er tilgængelige til implementering i forskning, udvikling og produktion. Det giver den teoretiske og praktiske baggrund for at anvende disse teknikker i videnskabelig og industriel materialekarakterisering. Hovedformålet med bogen er at kortlægge den teoretiske og praktiske baggrund, der er nødvendig for studiet af enkeltkrystalmaterialer ved hjælp af røntgendiffraktion og topografi med høj opløsning. Det kombinerer matematiske formalismer med grafiske forklaringer og praktiske praktiske råd til fortolkning af data. Sprog: Engelsk