En betydelig mængde forskning er blevet udført på på hinanden følgende k-out-of-n og relaterede pålidelighedssystemer i løbet af de sidste fire årtier. Disse systemer er blevet brugt til at modellere forskellige tekniske systemer, såsom mikrobølgestationer i telekommunikationsnetværk, olierørledningssystemer og vakuumsystemer i en elektronaccelerator. Som sådan har undersøgelser af pålidelighedsegenskaber af på hinanden følgende k-out-of-n-strukturer tiltrukket sig betydelig opmærksomhed fra både teoretiske og praktiske tilgange. I den moderne teknologiske æra anvendes redundans i de forskellige industrielle systemer for at forhindre dem i at svigte/pludselige fejl eller for at komme sig efter fejl. Denne bog er beregnet til at give viden og hjælpe ingeniører og akademikere med at forstå pålidelighedsteknik ved at bruge k-out-of-n-strukturer. Materialet er også rettet mod postgraduate eller senior bachelorstuderende, der forfølger pålidelighedsteknik. . Sprog: Engelsk