Funktioner 1, Automatisk detektion af NPN- og PNP-bipolære transistorer, N- og P-kanals MOSFET'er, JFET'er, dioder, dobbeltdioder, tyristorer og triacer. 2、 Måling af strømforstærkningsfaktor og Base-Emitter-tærskelspænding for bipolære transistorer. 3, Påvisning af konserveringsdioden af bipolære transistorer og MOSFET'er. 4、 Måling af Gate-tærskelspændingen og Gate-kapacitetsværdien for MOSFET'er. 5、Induktansmåleområdet er fra 0,01 mH til 20 timer, uden for området, eller hvis modstanden højere end 2,1 KΩ vil blive vist ved modstand. 6、Testtiden er ca. 2 sekunder, kun kapacitets- eller induktansmåling kan forårsage længere periode. 7、Small Devices Container er designet til placering af de små komponenter. 8、Sondestikket understøtter forskellige slags sonder, såsom modstands- og kondensatortestclips, krokodilleklemme og multimetertestledninger. 9、Med en typisk ESR-værdi af elektrolytisk kondensatortabel på dækslet, let for brugeren at bedømme den detekterede kondensator/u0027s kvalitet. ESR-tabellen er kun til reference, brug producentens/u0027s data som standard. Specifikation Testeren er et lille værktøjsdesign til ingeniør, elektronisk vedligeholdelse og fabrik. Det er meget let at teste plug-in og SMD-enhed, kan også teste forskellige slags dioder, trioder, tyristorer, MOSFET; i stand til at analysere enhedstypen, stiftens polaritet, udgangs-hFE, ventilspændingen, PET's forbindelseskapacitans. Funktioner: Automatisk detektion af NPN og PNP bipolære transistorer, N- og P-kanals MOSFET'er, JFET'er, dioder, dobbeltdioder, tyristorer og triacer. Måling af strømforstærkningsfaktor og Base-Emitter-tærskelspænding for bipolære transistorer. Påvisning af konserveringsdioden for bipolære transistorer og MOSFET'er. Måling af Gate-tærskelspændingen og Gate-kapacitetsværdien for MOSFET'er. Induktansmåleområdet er fra 0.01mH til 20H, uden for området, eller hvis modstanden højere end 2.1KΩ vil blive vist ved modstand. Testtiden er ca. 2 sekunder, kun kapacitets- eller induktansmåling kan forårsage længere periode. Small Devices Container er designet til placering af små komponenter. Probestikket understøtter forskellige slags prober, såsom modstands- og kondensatortestclips, krokodilleklemme og multimetertestledninger. Med en typisk ESR-værdi for elektrolytkondensatortabel på dækslet er det nemt for brugeren at bedømme den detekterede kondensators kvalitet. ESR-tabellen er kun til reference, brug producentens data som standard. Specifikationer: Type: Med testklip / uden testklip (valgfrit) Materiale: ABS Modstandsområde: 0Ω~50MΩ Modstandsopløsning: 0,01Ω Kapacitansområde: 25pF ~ 100mF Kapacitansopløsning: 1pF Induktansområde: 0,01 mH ~ 20H Induktans opløsning: 0,01 mH Kapacitans ESR-område: 2μF ~ 50mF Kapacitans ESR-opløsning: 0,01Ω Strømforsyning: 1 * 9V 6F22 batteri (medfølger ikke) Vare Størrelse: 140 * 82 * 46mm / 5,51 * 3,23 * 1,81 tommer Pakke Størrelse: 17,5 * 10 * 6 cm / 6,89 * 3,94 * 2,36 tommer Pakkevægt: 260 g / 9,17 oz (med clips), 250 g / 8,82 oz (uden klip) Pakkeliste: 1 * Transistor tester 1 * Manual (engelsk) Pakke liste 1 * Transistor tester 1 * Manual (engelsk)